Accexp薄膜的厚度測量解決方案
2015-08-14
Accexp薄膜的厚度測量解決方案能準確地測量透明的薄涂層，無需核裝置。Accexp薄膜的厚度測量解決方案可以省下核裝置每年需要的高昂維護費。
Accexp薄膜的厚度測量解決方案由長沙艾克賽普儀器設備有限公司提供，以下是Accexp薄膜的厚度測量解決方案的產品詳細信息。如果您有任何疑問或者相關需求，可以聯系0731-84284278轉801，郵箱：shawn.xiao@hncsw.net。長沙艾克賽普儀器設備有限公司可以根據您的需求定制整套解決方案。
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ACCEXP-LJ-V 系列
超高速輪廓測量儀 -
超快的速度 64,000 個輪廓／秒 - 瞬時測量所有形狀
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ACCEXP-LJ-V 系列
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ACCEXP-LJ-G 系列
高精度2D激光位移傳感器 -
LJ-G系列可在X及Z方向上精確測量物體表面的輪廓。可透過28種測量模式測量表面輪廓上的高度、寬度及間隙。
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ACCEXP-LJ-G 系列
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