NI PXI應對半導體陣列測試效率卡殼四大方案之陣列器件的并行數字脈沖測試
2025-09-02
NI PXI應對半導體陣列測試效率卡殼四大方案之陣列器件的并行數字脈沖測試
如今的新型材料器件，目前的發展趨勢已經由單個單元慢慢轉向大規模陣列的形式， 然而，傳統的半導體參數分析儀的設計主要針對單個器件單元，當測試規模從幾個通道擴展到上百上千個，如果繼續沿用傳統方式進行單個通道逐一測量，測試效率將面臨著極大的挑戰。
應用挑戰
新型材料與陣列器件的測試正面臨四類現實挑戰：
其一，開關時間下探至納秒/皮秒，需在可切換網絡下輸出并采樣超短脈沖以還原瞬態；
其二，通道規模從個位到百千級，串行掃描吞吐不足，必須多通道同步并行 I-V；
其三，需在同一平臺完成Rds（on）、Cgs、轉移/輸出曲線、1/f 噪聲等全面表征；
其四，芯片內置 ADC/DAC 普及，測試需可編程數字協議與并行脈沖時序配合批量讀寫。
測試方案介紹
為了應對這些挑戰，NI基于其高度模塊化的PXI平臺推出了一套面向未來計算芯片測試場景的集成式測試系統解決方案。該系統通過軟硬件一體化設計，覆蓋新型材料器件的單個節點，陣列，高精度，超快速脈沖等多種測試場景的需求，為新型器件驗證與測試提供平臺支撐。
為滿足上述復雜多元的測試需求，NI在基于PXI套件中提供了四套方案，以下是第四套方案：
陣列器件的并行數字脈沖測試
應用背景：
新型生物傳感器芯片在測試過程中通常需要通過數字協議進行多通道寄存器的靈活讀寫，尤其是在器件集成了 ADC/DAC 等模塊、且信號控制精度要求較高的場景中，傳統的臺式儀表通道數目有限，且沒辦法進行協議自定義。因此，需要一套可高并發、靈活配置、支持數字協議定制的解決方案來滿足新材料與器件陣列的測試需求。
方案特點：
基于專業定制的軟件，通過SPI Control的方式進行生物傳感器寄存器的讀寫，一張板卡最多可以實現32通道的可編輯的寄存器讀寫。
數字脈沖的幅度、脈沖寬度等可以按照具體的協議進行編輯。
適用場景：該方案面向集成了ADC/DAC、需多通道輸入/輸出可配置數字信號進行性能或功能測試的陣列式新材料器件。
最新資訊
