Micromeritic TriStarII 3020全自動比表面及孔隙度分析儀
名稱：物性分析測試儀器
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型號：
簡介：Micromeritic TriStarII 3020全自動比表面及孔隙度分析儀選配的多種脫氣站(樣品制備),用戶可根據(jù)實際情況選擇 Micromeritic TriStarII 3020全自動比表面及孔隙度分析儀軟件包含了目前所有的數(shù)據(jù)...
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- 產(chǎn)品介紹
Micromeritic TriStarII 3020全自動比表面及孔隙度分析儀借助于氣體吸附原理（典型為氮氣）可進行等溫吸附和脫附分析,用于確定比表面積，微孔孔體積和孔面積,中孔體積和面積，總孔體積等
•適用于各種材料的研究與產(chǎn)品測試,包括測量沸石，碳材料，分子篩，二氧化硅，氧化鋁，土壤，黏土，有機金屬化合物骨架結(jié)構(gòu)等各種材料
Micromeritic TriStarII 3020全自動比表面及孔隙度分析儀配置了液氮液面保持裝置---液氮等溫夾,以確保整個分析過程中等溫夾套以下的溫度恒定
•儀器可同時進行三個樣品的分析,滿足測試量大的用戶,不是多個工作站的"排隊分析",每個分析站都配有獨立的傳感器,保證三個分析站分析的同時進行.
•配備了大容量杜瓦瓶,結(jié)合專利的液氮等溫夾,保證至少60小時無人介入操作. 最大無上限的連續(xù)分析
Micromeritic TriStarII 3020全自動比表面及孔隙度分析儀軟件包含了目前所有的數(shù)據(jù)處理方法:
單點和多點BET比表面積, Langmuir比表面積
Temkin and Freundlich等溫線分析
多種厚度層公示計算的BJH中孔和大孔的孔體積、孔面積對孔徑的分布
孔體積和用戶指定孔徑范圍內(nèi)的總孔體積
MP法的微孔孔徑分布和t-plots、αs-plots得到的微孔總孔體積
f-Ratio plots,D-R,D-A
H-K法(包括Cheng & Yang校正,Saito & Foley校正)
DFT密度函數(shù)理論,包括NLDFT等
•分析范圍: 比表面積 0.01m2/g至無上限,孔徑分析范圍3.5A-5000A.(微孔部分采用二氧化碳進行吸附)
•真正的全自動儀器,儀器面板無任何手動按鍵,所有的操作程序均由計算機來控制
Micromeritic TriStarII 3020全自動比表面及孔隙度分析儀選配的多種脫氣站(樣品制備),用戶可根據(jù)實際情況選擇
FlowPrep060是一種流氣法脫氣裝置單元,通過加熱流氣去除樣品的表面污染物。包括六個脫氣站,你可以選擇適合你樣品溫度，氣體和流速。針閥允許調(diào)節(jié)流速保護流體樣品。
VacPrep061提供兩種方法去除污染物。除了流動氣體外，還提供通過加熱抽真空進行樣品的制備。你可以選擇最適合你的樣品的制備方法。這種裝置的優(yōu)點在于它有6個脫氣站，每個脫氣站可選擇真空和流氣兩種制備方法。針閥允許調(diào)節(jié)流速保護流體樣品。
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