布魯克Bruker JV-QCRT 半導體計量儀
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簡介：布魯克Bruker JV-QCRT 半導體計量儀系統(tǒng)使用最新的x射線衍射成像(XRDI)技術來識別高價值基質(zhì)中的缺陷,如CdTe密度和其他材料。由于x射線衍射的本質(zhì),與光學技術不同,晶片不需要蝕刻或拋光能夠看到的缺陷。CdTe CdHgTe...
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- 產(chǎn)品介紹
布魯克Bruker JV-QCRT 半導體計量儀系統(tǒng)使用最新的x射線衍射成像(XRDI)技術來識別高價值基質(zhì)中的缺陷,如CdTe密度和其他材料。由于x射線衍射的本質(zhì),與光學技術不同,晶片不需要蝕刻或拋光能夠看到的缺陷。CdTe CdHgTe廣泛用于紅外探測,特別是夜視,薄膜太陽能電池。對于這些應用程序,生長晶體的質(zhì)量就變得很重要。布魯克Bruker JV-QCRT 半導體計量儀用于檢測晶體和基質(zhì)的處理。
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