布魯克Bruker JVX7300F-C 半導體計量儀
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簡介：布魯克Bruker JVX7300F-C 半導體計量儀是定位和量化TXRF微量金屬污染的半導體儀器。布魯克Bruker JVX7300F-C 半導體計量儀是最新的力量TXRF光譜儀，為全晶片提供快速、非破壞性,內聯和完全自動化測量微量金屬,...
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布魯克Bruker JVX7300F-C 半導體計量儀是定位和量化TXRF微量金屬污染的半導體儀器。布魯克Bruker JVX7300F-C 半導體計量儀是最新的力量TXRF光譜儀，為全晶片提供快速、非破壞性,內聯和完全自動化測量微量金屬,使污染控制在設備處理。布魯克Bruker JVX7300F-C 半導體計量儀符合半標準,帶有JV-TXRF軟件包,是最新的TXRF技術和儀器創新。
布魯克Bruker JVX7300F-C 半導體計量儀的TXRF技術給晶圓廠的完全自動化解決方案監測微量金屬污染,同時保持空間信息在晶片表面。測量表面敏感,無損,完全自動化,不需要化學危險品的使用。JVX7300F-C給用戶增加了測量的選擇與配方可定義晶片對齊方法,提高吞吐量和測量硅和其他晶片基板的靈活性。JVX7300F-C提供了一個可定制的平臺3同時配置、單色、光學路徑。使用三種不同的激勵源保證最好的敏感性組在每個元素周期表。JVX7300F-C還配備了最新的硅漂移探測器,提供優秀的能量分辨率和背景的最終微量金屬的敏感性最低。
快速映射TXRF，整片地圖的快速映射TXRF給污染物的數量和他們的位置信息在晶片表面。這個信息是故障診斷的關鍵微量金屬遠足和監測微量金屬含量在工廠中的每個流程步驟。零邊緣排除，JVX7300F-C提供映射能力為零毫米邊緣排除。晶片邊緣TXRF測量為工程師提供了極有價值的信息,在微量金屬含量的關鍵區域的晶片,這是容易通過foup和邊緣觸手交叉污染。
如果您需要布魯克Bruker JVX7300F-C 半導體計量儀及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯絡我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
