捷歐路JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡
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簡介：捷歐路JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡配備了JEOL自主研發的球差校正器，最高加速電壓可達300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。采用JEOL自主研發的球差...
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捷歐路JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡配備了JEOL自主研發的球差校正器，最高加速電壓可達300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。采用JEOL自主研發的球差校正器，掃描透射像（STEM像)的保證分辨率可達63pm（300kV,超高分辨率極靴、使用STEM球差校正器時）。ETA校正器（Expanding trajectory aberration corrector）是JEOL研發的擴展軌道型12極球差校正器。可以在用戶現場加裝STEM球差校正器及TEM球差校正器。標配了全新設計的冷場發射電子槍,低能散、高亮度電子束能提供高分辨率觀察和分析。為了支持用戶廣泛的需求，研發了兩種各具特點的物鏡極靴。能安裝超大立體角EDS（能譜儀）、EELS（電子能量損失譜儀）、背散射電子檢測器及四種STEM觀察檢測器。標配300kV和80kV下的球差校正數據,可選的加速電壓范圍從40KV?300kV，使用范圍極廣。新的排氣系統達到了極高的真空度，在原子尺度的圖像觀察和分析中，最大限度地減輕了對樣品的污染和損傷。整體穩定性高、直徑330mm的鏡筒增加了機械剛度， 在JEM-ARM200F高度穩定的技術基礎之上，把電氣穩定性和對環境的抗干擾能力提高到新高度。
| 分辨率 | 300 kV，80 kV | |
| 物鏡種類※1 | UHR極靴 | HR極靴 |
| STEM分辨率（300kV） 使用STEM校正器 | 0.063nm | 0.082nm |
| TEM分辨率（300 kV） | 線分辨率0.05nm | 線分辨率0.06nm |
| 使用TEM校正器 | 非線性信息分辨極限0.06nm | 非線性信息分辨極限0.08nm |
| 線性信息分辨極限0.09nm | 線性信息分辨極限0.12nm |
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