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捷歐路JEOL JXA-8230 電子探針顯微分析儀
名稱：其他儀器與工具
品牌：
型號(hào)：
簡(jiǎn)介：捷歐路JEOL JXA-8230 電子探針顯微分析儀可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測(cè)器，組合使用WDS和EDS，能提供無(wú)縫、舒適的分析環(huán)境。 日本電子新開(kāi)發(fā)出的EPMA （電子探針）秉承近半個(gè)世紀(jì)的EPMA的發(fā)展歷史，JXA-8...
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- 產(chǎn)品介紹
捷歐路JEOL JXA-8230 電子探針顯微分析儀可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測(cè)器，組合使用WDS和EDS，能提供無(wú)縫、舒適的分析環(huán)境。
日本電子新開(kāi)發(fā)出的EPMA （電子探針）秉承近半個(gè)世紀(jì)的EPMA的發(fā)展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過(guò)新式簡(jiǎn)單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長(zhǎng)年來(lái)對(duì)高可靠性硬件不斷改良的結(jié)果。JXA-8230電子探針是下一代能完全滿足多種需求的強(qiáng)力分析工具之一。
捷歐路JEOL JXA-8230 電子探針顯微分析儀的EPMA快速啟動(dòng)點(diǎn)擊任何一點(diǎn)，就能開(kāi)始預(yù)設(shè)的EDS定性、定量分析或WDS分析。
| 檢測(cè)元素范圍 | WDS：(Be) /B～U, EDS：B～U |
| X射線檢測(cè)范圍 |
WDS檢測(cè)的波長(zhǎng)范圍: 0.087～9.3nm, EDS EDS檢測(cè)的能量范圍: 20keV |
| 分光譜儀數(shù)量 | WDS: 1～5道可選、EDS: 1臺(tái) |
| 最大樣品尺寸 | 100mm × 100mm × 50mm（H） |
| 加速電壓 | 0～30kV（以0.1 kV為步長(zhǎng)） |
| 束流電流范圍 | 10-12 ～ 10-5 A |
| 束流電流穩(wěn)定度 | 5%/h, ±0.3%/12h（W） |
| 二次電子分辨率 |
6nm（W）, 5nm（LaB6） （W.D. 11mm, 30kV） |
| 掃描倍率 | ×40 ～ ×300,000（W. D. 11mm） |
| 掃描圖像分辨率 | 最大 5,120× 3,840 |
| 彩色顯示器 |
EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024 SEM操作、 EDS分析用: LCD 1,280 × 1,024 |
| 光學(xué)顯微鏡 | |
| 分辨率 | ～1um |
| 焦深 | 1um |
| 真空系統(tǒng) | 機(jī)械泵、分子泵、離子泵 |
| 真空度 |
樣品室: 優(yōu)于8.0 x 10-4Pa, 電子槍: 優(yōu)于9.0 x 10-5Pa |
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