布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學顯微鏡
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簡介：布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學顯微鏡提供最全面的表面測量與成像技術，性能卓越、操作簡便的桌上型三維光學顯微鏡，布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學顯微鏡完善了表面測量和分析的新標準，這套測量系統擁有工業...
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布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學顯微鏡提供最全面的表面測量與成像技術，性能卓越、操作簡便的桌上型三維光學顯微鏡，布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學顯微鏡完善了表面測量和分析的新標準，這套測量系統擁有工業領先的測量性能和靈活性，采用專利白光干涉技術，超大視野內埃級至毫米級的垂直計量范圍，具有業界最高的垂直分辨率和測量重復性。憑借其獨特的直觀用戶界面和功能最全的自動化檢測、分析功能，方便用戶快速高效的獲得材料粗糙度、二維/三維表面分析以及高分辨成像，廣泛應用于LED、太陽能電池、薄膜材料、MEMS、精密機械零部件、摩擦磨損等各個領域，滿足各種表面測量的實際需求。布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學顯微鏡集三十年表面測量技術之大成，將創新技術與業界測量經驗完美融合到一套非接觸式表面測量系統上，憑借低噪音、高速度、高分辨精確測量，滿足各類測試需求。任意選擇不同的放大倍率，在極寬的測量范圍內，對樣品表面形狀和紋理進行表征，在任何倍率下，從亞納米級到超過10毫米級垂直測量量程提供了無與倫比的測量靈活性，是當今生產研究和質量控制檢測的最佳選擇。
布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學顯微鏡提高表面測量和分析速度，布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學顯微鏡測試系統上，用戶可自定義分析選項，多核處理器和Vision64®軟件將數據處理、分析速度提高十倍，大大提高測試效率。同時完善了軟件和硬件功能，人性化的工作流程、頂尖的光學測試系統、高性價比的檢測平臺，使其成為桌上型三維光學顯微鏡的最佳選擇。除了標準配置的各種檢測功能，客戶還可以自定義測試方案，選擇各類各級配件或特殊測試模塊：全自動X、Y、Z樣品臺；NanolensTM AFM模塊；特殊應用測試軟件。
如果您需要布魯克Bruker ContourGT-K 三維光學顯微鏡及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯絡我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
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