尼康nikon N-SIM E 超分辨率顯微鏡
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簡介：尼康nikon N-SIM E 超分辨率顯微鏡運用結構照明顯微鏡技術，實現了2倍于傳統光學顯微鏡的空間分辨率（約115nm）。作為一套精簡、經濟的超分辨率系統，N-SIM E支持常用的激發波長和基本的成像模式，是個人實驗室的理想選擇。 尼康...
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尼康nikon N-SIM E 超分辨率顯微鏡運用結構照明顯微鏡技術，實現了2倍于傳統光學顯微鏡的空間分辨率（約115nm）。作為一套精簡、經濟的超分辨率系統，N-SIM E支持常用的激發波長和基本的成像模式，是個人實驗室的理想選擇。
尼康nikon N-SIM E 超分辨率顯微鏡結合“結構照明顯微技術”，并搭配尼康知名的CFI超分辨率復消色差TIRF 100x油鏡（NA 1.49），將空間分辨率提升至傳統光學顯微鏡的近2倍（約115nm），可以觀察細胞內結構的微小細節以及它們之間的相互作用。
*488nm激光激發，3D-SIM模式
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超分辨率成像（Slice 3D SIM 模式） 傳統寬場成像
尼康nikon N-SIM E 超分辨率顯微鏡實現高速超分辨圖像獲取，時間分辨率約1秒/幀，支持活細胞高分辨成像。Slice 3D SIM模式用于300nmZ軸分辨率的光學斷層超分辨率成像。Stack 3D-SIM模式（選配）用于厚樣品的多層序列超分辨率成像，具有比Slice 3D-SIM模式更高的成像對比度。
尼康nikon N-SIM E 超分辨率顯微鏡專用的緊湊型LU-N3-SIM 激光臺，預裝了最常用的3個激光器（488/561/640），可進行多色超分辨率成像。用于研究細胞水平多個蛋白間相互作用以及動態過程。
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